SIMS
サンプルに金属やフラーレンやクラスターイオン(一次イオン)のビームを照射することによりサンプル中の成分をイオン化する方法.このときのイオンビームの照射範囲が1μm~と狭いため,空間分解能の高い分析が可能である.イオン化は真空下で行う.(実験医学2010年1月号より)
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解説は発行当時の掲載内容に基づくものです
本コンテンツは,2018年まで更新されていた同名コンテンツを元に,新規追加・再編集したものです
サンプルに金属やフラーレンやクラスターイオン(一次イオン)のビームを照射することによりサンプル中の成分をイオン化する方法.このときのイオンビームの照射範囲が1μm~と狭いため,空間分解能の高い分析が可能である.イオン化は真空下で行う.(実験医学2010年1月号より)
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