serial block face-scanning electron microscopy
従来の超薄連続切片法と異なり，試料ブロックの表面を走査型電子顕微鏡で画像取得してはダイアモンドナイフで切削し，新たに表出した面を画像取得する．このステップをくり返して試料の三次元再構築像を取得する．（実験医学増刊3612より）
脳神経回路と高次脳機能
スクラップ＆ビルドによる心の発達と脳疾患の謎を解く
解説は発行当時の掲載内容に基づくものです
本コンテンツは，2018年まで更新されていた同名コンテンツを元に，新規追加・再編集したものです
