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二次イオン質量分析法

にじいおんしつりょうぶんせきほう

サンプルに金属やフラーレンやクラスターイオン(一次イオン)のビームを照射することによりサンプル中の成分をイオン化する方法.このときのイオンビームの照射範囲が1μm~と狭いため,空間分解能の高い分析が可能である.イオン化は真空下で行う.(実験医学2010年1月号より)

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分子・脳機能イメージングから合成生物学まで

瀬藤光利/企画

解説は発行当時の掲載内容に基づくものです

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