走査型電子顕微鏡で試料の深さごとに撮影した断層画像をコンピューターで画像処理し，内部構造を再構成する解析方法．通常は，透過型電子顕微鏡の試料を傾斜して得た電子顕微鏡画像を使って処理する方法を指す．（実験医学増刊3612より）

脳神経回路と高次脳機能

スクラップ＆ビルドによる心の発達と脳疾患の謎を解く

榎本和生，岡部繁男／編