傾斜可能な試料ステージをもったTEMまたはSTEMを用いて,試料切片を1~5度ごとに-70度~+70度程度まで傾斜して画像を取得し,その傾斜像シリーズから切片の三次元構造を再構成することで,試料の断層面や内部の三次元構造を明らかにする方法.(実験医学2010年1月号より)
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解説は発行当時の掲載内容に基づくものです
本コンテンツは,2018年まで更新されていた同名コンテンツを元に,新規追加・再編集したものです
傾斜可能な試料ステージをもったTEMまたはSTEMを用いて,試料切片を1~5度ごとに-70度~+70度程度まで傾斜して画像を取得し,その傾斜像シリーズから切片の三次元構造を再構成することで,試料の断層面や内部の三次元構造を明らかにする方法.(実験医学2010年1月号より)
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